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需求市场

MARKET DEMAND

TEM/HRTEM/Mapping/EDS

试验检测

已过期

面议

该样品长100nm，宽20-30nm，已拍摄过TEM和HRTEM。目前分散在环己烷中，可以将该溶液直接超声15min左右后滴加到碳支撑膜上看低倍和高倍图，超薄碳膜看高分辨 1.想要拍摄均匀且分散性好的低倍图和高倍图，以及高分辨测试；该样品的低倍图和高倍图比较好拍，高分辨拍摄速度应快，否则很容易击穿 2.元素分析等

状态：已过期

发布日期：2020-10-15

暂未收到方案
XRD,XPS,TEM,TEM-mapping

试验检测

已过期

预算：3,000.00 元

样品是镍钴双金属硫化物纳米片包覆的氢氧化铜纳米线. 请先测试三个样品的XRD和XPS（如测试可能对样品有机械损坏，建议剪切膜片样品的一半使用，可用玻片轻压以方便测试），再安排透射测试。透射测试要求：膜片切一小块，放进乙醇里面超声10-15分钟，然后吸取上清液制备微栅，拍照的时候拍不同倍数的整根纳米线，然后再聚焦纳米线上面的纳米片或颗粒等微结构拍照；做mapping的时候请选取单根纳米线，以确认整根纳米线上面的元素分布情况。

状态：已过期

发布日期：2020-10-14

暂未收到方案
环境扫描电镜

试验检测

已过期

面议

实验内容：待观察样品为长宽高1cm x 1cm x 0.65mm的硅片（表面带有部分聚四氟乙烯，不需表面处理，直接观察即可）。使用环境扫描电镜（ESEM，要求有冷凝台）观察式样在-5到0摄氏度左右表面冷凝水生长形貌。3到6Torr左右真空度观察，如不能调真空度请常压下观察即可，相对湿度暂无具体要求。观察时间每个式样约10-20分钟。之后，每个式样置于60度斜面（如设备置物台不能倾斜，我会提供斜面支架）上，重复上述观察。如观察期间可以录像，请录像。样品说明：式样不能表面喷金，需要原样进行观察。

状态：已过期

发布日期：2020-10-14

暂未收到方案
磁控溅射镀膜

试验检测

已过期

面议

样品：硅片+铜薄膜采用PVD 设备在硅片表面溅射一层镍金属薄膜层

状态：已过期

发布日期：2020-10-14

暂未收到方案
TEM

试验检测

已完结

预算：900.00 元

钴酸锌粉末用溶剂溶解，形貌高分辨，衍射，面扫。 +

状态：已完结

发布日期：2020-10-14

已收到方案（1）
乙酸乙酯残留量测试,气相色谱（可参考GB/T 9722-2006）

试验检测

已完结

面议

测试目的：检测样品中溶剂乙酸乙酯的残留量；结果具体以测试结果为准。详见GB/T 9722-2006 +

状态：已完结

发布日期：2020-10-13

暂未收到方案
TEM或原子探针

试验检测

已过期

面议

成分：Al-12Si-4Cu-3Ni-Mg。红圈标记处为两种相的相界，希望通过透射或者原子探针的手段观察相界的微观结构。

状态：已过期

发布日期：2020-10-13

暂未收到方案
GPC

试验检测

已完结

面议

该样品溶于四氢呋喃、N-N二甲基甲酰胺 . 测定样品分子量 +

状态：已完结

发布日期：2020-10-13

暂未收到方案
XRF测试

试验检测

已过期

预算：3,000.00 元

测试zsm-48分子筛的铝硅比；测试ZSM-48分子筛样品中硅元素与铝元素的摩尔比。 +

状态：已过期

发布日期：2020-10-13

暂未收到方案
正电子湮没自由谱

试验检测

已完结

面议

测试聚合物样品的自由体积。测试需要结果需要知道正电子对o-Ps的寿命τ3、相对强度I3、以及511 keV湮灭线的多普勒展宽。询问对样品的尺寸要求。 +

状态：已完结

发布日期：2020-10-12

暂未收到方案

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