1、铜网用超薄碳膜
2、形貌+高分辨+EDS mapping
3、选区电子衍射每个样品2张
1、样品为纳米棒，直径在100-250nm之间，长度1μm以上。请按照上图所示依次增加分辨率，拍摄样品从全景到多根最后到单根的形貌，要求三个样品的分辨率统一。
2、如上图所示，请主要拍摄高分辨图像，目的是观察材料的晶格条纹和缺陷以及晶格扭曲。所以高分辨请尽可能多拍一些。
3、如上图所示。每个样品选取单根MnO2棒,得到EDS image， HAADF-STEM image and corresponding EDS mapping images。最重要的是根据EDS计算得到Mn和O原子的摩尔比。
4、样品为均相材料，请每个样品选取2个点打一下电子衍射。
样品SEM形貌如图所示，请测试老师根据经验帮我选择最佳位点进行测试。此次测试最希望得到的信息是样品的晶格缺陷以及根据EDS得到的Mn和O原子的摩尔比。
