029-88186855
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TOF-SIMS（飞行时间二次离子质谱仪）
提交方案截止日期：2020-10-31 预算：面议 征集状态：已完结
1.试样体积：0.7 x 0.7 x 0.1 cm片状 2.试样表面成分：聚四氟乙烯和二氧化硅（或者是硅）的复合表面，详情见下图 实验要求和目的： 1.请用TOF-SIMS验证上图箭头所指区域内是否为聚四氟乙烯以及二氧化硅（或是硅），并用不同颜色标出，比如聚四氟乙烯的区域用绿色，硅或者二氧化硅的区域用红色。希望得到的实验结果如下：
