折射率n和消光系数k测试（1.7um-25um）,红外椭圆偏振光谱仪IR-VASE ellipsometer (J. A. Woollam, USA)

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类别：试验检测

截止日期：2020-09-30 预算：面议征集状态：已过期

采用红外椭圆偏振光谱仪测试聚合物薄膜的折射率n和消光系数k，测试范围在1.7 um-25 um。测试方法：固定角度60度。目的：获得聚合物薄膜的光学常数信息（n, k值）结果：获得不同波长下的数据点

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发布日期：2020-09-16

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