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磁性纳米薄膜铁磁共振测试

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类别：试验检测

截止日期：2020-08-27 预算：面议 征集状态：已完结

测试说明：1.在9GHz测试频率下对样品进行变温面内扫场测试，温度范围为100K-400K之间，取样点在15个点左右（20K间隔取点）。 2.室温下多频点对样品进行面内扫场测试（8GHz-20GHz），0.5GHz间隔取点。 样品大小为6mm正方形样品，基片厚度为300微米。薄膜厚度在20nm左右。 测试目的：需要提供每个测试点的完整铁磁共振吸收曲线。

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发布日期：2020-06-17
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