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表面阴极萤光CL

提交方案

类别：试验检测

截止日期：2020-04-30 预算：面议征集状态：已完结

扫描电子显微镜中的CL测试模块。 Si衬底上生长的GaN半导体薄膜材料晶片,测试材料表面cl，并估算出表面穿透位错密度。

需求市场

发布日期：2020-03-24

已收到方案：1

光声超构

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