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磁学M-H测量
截止日期：2019-11-29 预算：面议 征集状态：已完结
氧化物磁性薄膜，测试磁场±1T，测试温度为10K，120K，300K，样品为薄膜，尺寸小于3mm*3mm，厚度为nm级。
想要进行弯曲测量，在薄膜下垫一个弯曲模具，模具已有，该测试进行过，想再次验证一下，样品放置为重点，需要仔细沟通
数据尽量希望一天一发，以免测试出错。
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