测试硅片样品的光致发光(PL)光谱(荧光分光光度计)

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类别:科研设备

截止日期:2019-07-13 预算:面议 征集状态:已完结

激光加工后的单晶硅片,表面已制备微纳结构,为加工面为平面硅;厚度525微米,尺寸2厘米的硅片;研究一下激光处理后硅表面的光致发光情况测试波段200-1000nm.

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发布日期:2019-06-13
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