质谱，面扫，深度剖析，数据分析

1、质谱

2、面扫

3、TOF-SIMS 5 iontof--快递交替模式--深度剖析

深度曲线-相对应的3D图


4. PHI Nanotof

粉末样品50mg即可，块状样品长宽1.1cm以内，厚度5mm以内，不能太大，小一些没有问题。如果样品比较容易氧化或者吸水请提前联系测试负责人，需要真空封装好提前预约时间测试。样品在超高真空下必须稳定，无腐蚀性。建议，样品用干净玻璃瓶盛装或铝箔纸包装，不要用有黏性的塑料袋/膜，或者粘胶，会有硅油在样品表面的，会遮盖样品表面的信息，TOF测试1-2nm的信息，切记不能污染样品表面。

1.DSIMS深度分辨率为什么高于SSIMS？
答：D-SIMS采用DC模式的离子源，深度剖析时分析和溅射同时进行，对表面是连续深度作用的过程，成分从表面到深度的信息是连续采集。而SSIMS采用脉冲模式，深度剖析时分析和溅射交替进行，从表面的到深度的分析不是连续的过程，溅射除去的深度部分的成分信息没有被收集到，因此深度分辨率是D-SIMS优于S-SIMS，
2.N元素应该什么模式可以测试？正离子还是负？

答：通常N原子离子很难表征，需要用NH4，CN，CNO，CNS这些离子来判断N的存在与否，NH4离子是在正离子模式出峰，而CN，CNO，CNS在负离子模式出峰。
3.老师如果我想检测表面氧的变化，那怎么定量？
答：定量需要标准样品，但可以根据O谱峰强度的变化来表征含量的变化。
4.TOF-SIMS的离子强度是否可以定性？
答：离子强度通过标准样品可以定量，定性看谱峰的荷质比（m/z）。
5.TOF-SIMS可以测液固界面的变化吗？对液相pH有要求吗？
答：液体样品必须干燥和冷冻后才能用TOF-SIMS进行分析。对pH值没有要求。
6.同位素比对是什么原理？
答：TOF-SIMS分析可以表征元素的同位素，其不同同位素谱峰的峰强比与其在自然界中的丰度比是一致的。所以根据同位素质量位置以及谱峰比例关系有助于我们对元素和成分进行定性判定。