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微区红外光谱分析系统
在线咨询品牌： 型号： 未知
主要功能及特色：
1） 常规AFM模式，包括轻敲、接触、力曲线、力调制、侧向力、扫描隧道显微镜、相成像；
2） 峰值力显微镜，可精确控制针尖和样品的作用力到pN；
3） 可在一个固定的、感兴趣的波数下进行红外吸收和反射成像；
4） 可原位获得形貌图像、红外吸收成像和机械性能成像同步测试；
5） 能够提供异质材料如共混物/混合物/多层膜的局部热分析鉴定；
主要技术参数：
频谱范围：900cm-1~2000cm-1和2235cm-1~3600cm-1； 光谱分辨率：4cm-1 ； 最大成像尺寸：80μm×80μm； 光谱采集时间：≤1分钟/光谱 ； XY扫描范围：80μm×80μm，闭环电容式传感器； Z扫描范围：＞6μm ； XY移动载物台：7mm×9mm，自动 。
