X射线粉末衍射仪(XRD)

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类别: 科学仪器设备 表征分析

品牌: 型号: 未知

项目简介

X射线粉末衍射仪可测量物质的晶体结构,进行物相定性、定量分析。广泛应用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教学,材料生产等领域。

详细参数

技术指标: 1.Cu靶X光管电压≤50kV、电流≤50mA; 2.测角仪工作方式:θ/2θ耦合扫描,扫描范围:-3°~150°; 3.测角仪精度:0.0001°,误差≤0.01°; 4.变温测试温度范围:常温至1200℃; 5.LynxEye XE阵列探测器,最高计数:8 x 105 cps。
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