表面形貌与成分分析测试系统 (SEM)

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类别: 科学仪器设备 表征分析

品牌: 型号: 未知

项目简介

表面形貌与成分分析测试系统(扫描电镜)主要用于观察材料表面的微观形貌、断口及内部组织,并对材料表面微区成分进行定性和定量分析,主要用途如下: 陶瓷、金属、混凝土、生物、高分子、矿物、纤维等无机或有机固体材料的断口、表面形貌、粒度、变形层等的观察;材料的相分布和夹杂物形态成分的鉴定,金属镀层厚度及各种固体材料膜层厚度的测定;进行材料表面微区成分的定性和定量分析,在材料表面做元素的点、线、面分布分析。

详细参数

技术指标: 二次电子分辨率:1.0nm(15kV);2.5nm(1kV);1.6nm(1kV减速模式); 加速电压:0.5-30kV; 电子枪:热场发射电子源; 放大倍率:30-800,000倍; X射线能谱仪的元素分析范围:Be4-U92。
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